National Repository of Grey Literature 3 records found  Search took 0.01 seconds. 
Optimizing experimental parameters for LIBS analysis of hard tissues
Fazlić, Aida ; Kuchynka,, Michaela (referee) ; Pořízka, Pavel (advisor)
Tato diplomová práce se zaměřuje na detekci a analýzu těžkých kovů, zejména olova (Pb), v tvrdých tkáních pomocí hydroxyapatitových standardů a spektroskopie laserem buzeného plazmatu (LIBS). Studie využívala různé vlnové délky laseru 1064 nm, 532 nm a 266 nm, stejně jako různé konfigurace laseru, včetně jednopulzní (SP, z angl. single-pulse) LIBS a dvojpulzní (DP, z angl. double-pulse) LIBS v ortogonálním a kolineárním uspořádání. Byla provedena optimalizace parametrů laseru, jako jsou vlnová délka, defokus, doba zpoždění, mezipulzní doba zpoždění a energie. Poměr signál-ke-šumu (SBR), limit detekce a rozlišení odpovídající průměru ablačního kráteru sloužily jako základní parametry pro určení optimální kombinace parametrů. Výsledky této studie poskytují důležité poznatky o optimálních parametrech LIBS pro detekci a analýzu těžkých kovů v tvrdých tkáních, což může mít potenciálně významné dopady pro lékařský výzkum.
Influence of working conditions on the detected signal by BSE detector in the scanning electron microscope Vega 3 XMU
Tkáčová, Tereza ; Chladil, Ladislav (referee) ; Čudek, Pavel (advisor)
This work is focused on investigating of influence of different working conditions in scanning electron microscope to signal detected by backscattered electron detector. In the theoretical part, there is a general description of scanning electron microscope, backscattered electrons issue and also definition of methods of signal to noise ratio evaluation. The practical part is focused on observation of suitable samples in a scanning electrone microscope.
Influence of working conditions on the detected signal by BSE detector in the scanning electron microscope Vega 3 XMU
Tkáčová, Tereza ; Chladil, Ladislav (referee) ; Čudek, Pavel (advisor)
This work is focused on investigating of influence of different working conditions in scanning electron microscope to signal detected by backscattered electron detector. In the theoretical part, there is a general description of scanning electron microscope, backscattered electrons issue and also definition of methods of signal to noise ratio evaluation. The practical part is focused on observation of suitable samples in a scanning electrone microscope.

Interested in being notified about new results for this query?
Subscribe to the RSS feed.